Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız:
http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089| Başlık: | EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini |
| Diğer Başlıklar: | Determination of thickness for CuInSe2 thin film using the EDXRF technique |
| Yazarlar: | Çelik, Ahmet |
| Anahtar kelimeler: | X-ışını, ince film, kalınlık, soğurma katsayısı, Sİ(Lİ) dedektör;X-ray, Thin Film, Thickness, Attenuation Coefficient, Si(Li) Detector |
| Yayın Tarihi: | 2006 |
| Yayıncı: | Karadeniz Teknik Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü |
| URI: | http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089 |
| Koleksiyonlarda Görünür: | Fizik |
Bu öğenin dosyaları:
| Dosya | Açıklama | Boyut | Biçim | |
|---|---|---|---|---|
| 182962.pdf | 1.08 MB | Adobe PDF |  Göster/Aç |
DSpace'deki bütün öğeler, aksi belirtilmedikçe, tüm hakları saklı tutulmak şartıyla telif hakkı ile korunmaktadır.