Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız: http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089
Başlık: EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini
Diğer Başlıklar: Determination of thickness for CuInSe2 thin film using the EDXRF technique
Yazarlar: Çelik, Ahmet
Anahtar kelimeler: X-ışını, ince film, kalınlık, soğurma katsayısı, Sİ(Lİ) dedektör;X-ray, Thin Film, Thickness, Attenuation Coefficient, Si(Li) Detector
Yayın Tarihi: 2006
Yayıncı: Karadeniz Teknik Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü
URI: http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089
Koleksiyonlarda Görünür:Fizik

Bu öğenin dosyaları:
Dosya Açıklama BoyutBiçim 
182962.pdf1.08 MBAdobe PDFKüçük resim
Göster/Aç


DSpace'deki bütün öğeler, aksi belirtilmedikçe, tüm hakları saklı tutulmak şartıyla telif hakkı ile korunmaktadır.