Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız:
http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089Tüm üstveri kaydı
| Dublin Core Alanı | Değer | Dil |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Çelik, Ahmet | - |
| dc.date.accessioned | 2022-06-15T08:09:07Z | - |
| dc.date.available | 2022-06-15T08:09:07Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.uri | http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089 | - |
| dc.language.iso | tr | tr_TR |
| dc.publisher | Karadeniz Teknik Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü | tr_TR |
| dc.subject | X-ışını, ince film, kalınlık, soğurma katsayısı, Sİ(Lİ) dedektör | tr_TR |
| dc.subject | X-ray, Thin Film, Thickness, Attenuation Coefficient, Si(Li) Detector | tr_TR |
| dc.title | EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini | tr_TR |
| dc.title.alternative | Determination of thickness for CuInSe2 thin film using the EDXRF technique | tr_TR |
| dc.type | Thesis | tr_TR |
| Koleksiyonlarda Görünür: | Fizik | |
Bu öğenin dosyaları:
| Dosya | Açıklama | Boyut | Biçim | |
|---|---|---|---|---|
| 182962.pdf | 1.08 MB | Adobe PDF |  Göster/Aç |
DSpace'deki bütün öğeler, aksi belirtilmedikçe, tüm hakları saklı tutulmak şartıyla telif hakkı ile korunmaktadır.