Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız: http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/1310
Başlık: Ag-Cu ince film alaşımlarına ait x-ışını floresans parametrelerinin EDXRF yöntemiyle ölçülmesi
Diğer Başlıklar: Measurement of the x-ray flourescence parameters for Ag-Cu thi̇n fi̇lm alloys wi̇th the EDXRF method
Yazarlar: Karabulut, Kazım
Yayın Tarihi: 2015
Yayıncı: Karadeniz Teknik Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü / Fizik Anabilim Dalı
Özet: Bu çalışmada Ag-Cu ince film alaşımlarında bulunan Ag ve Cu elementlerinin K tabakası floresans tesir kesiti ve floresans verimi ED-XRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numunelerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmadan elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı. XRF parametreleri arasındaki farkların alaşım konsantrasyonuna bağlı olmadığı gözlemlendi. In this study, K shell X-ray production cross-sections and fluorescence yields of Ag and Cu elements were investigated for the Ag-Cu thin film alloys using the ED-XRF technique. The samples were excited by 59.5 keV γ-rays emitted from 241Am radioisotope source and K X-rays emitted from samples were counted by means of Ultra-LEGe detector with a resolution 150 eV at 5.9 keV. The obtained values from this study have been compared with theoretical values. It was observed that differences between the XRF parameters are not depend on the concentrations of the elements in the alloys.
URI: http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/1310
Koleksiyonlarda Görünür:Fizik

Bu öğenin dosyaları:
Dosya Açıklama BoyutBiçim 
424466.pdf2.75 MBAdobe PDFKüçük resim
Göster/Aç


DSpace'deki bütün öğeler, aksi belirtilmedikçe, tüm hakları saklı tutulmak şartıyla telif hakkı ile korunmaktadır.