Ag-Cu ince film alaşımlarına ait x-ışını floresans parametrelerinin EDXRF yöntemiyle ölçülmesi

Abstract

Bu çalışmada Ag-Cu ince film alaşımlarında bulunan Ag ve Cu elementlerinin K tabakası floresans tesir kesiti ve floresans verimi ED-XRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numunelerden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmadan elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı. XRF parametreleri arasındaki farkların alaşım konsantrasyonuna bağlı olmadığı gözlemlendi. In this study, K shell X-ray production cross-sections and fluorescence yields of Ag and Cu elements were investigated for the Ag-Cu thin film alloys using the ED-XRF technique. The samples were excited by 59.5 keV γ-rays emitted from 241Am radioisotope source and K X-rays emitted from samples were counted by means of Ultra-LEGe detector with a resolution 150 eV at 5.9 keV. The obtained values from this study have been compared with theoretical values. It was observed that differences between the XRF parameters are not depend on the concentrations of the elements in the alloys.