DSpace@İHÜ

EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini

EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini

Çelik, Ahmet
Bağlantı: http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089
Tarih: 2006

Tüm öğe kaydını göster

Bu öğenin dosyaları:

Thumbnail
Ad: 182962.pdf
Boyut: 1.056Mb
Biçim: PDF
Göster/Aç

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.