EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini

dc.contributor.author	Çelik, Ahmet
dc.date.accessioned	2022-06-15T08:09:07Z
dc.date.available	2022-06-15T08:09:07Z
dc.date.issued	2006
dc.identifier.uri	http://acikerisim.ktu.edu.tr/jspui/handle/123456789/4089
dc.language.iso	tr	tr_TR
dc.publisher	Karadeniz Teknik Üniversitesi / Fen Bilimleri Enstitüsü	tr_TR
dc.subject	X-ışını, ince film, kalınlık, soğurma katsayısı, Sİ(Lİ) dedektör	tr_TR
dc.subject	X-ray, Thin Film, Thickness, Attenuation Coefficient, Si(Li) Detector	tr_TR
dc.title	EDXRF tekniğini kullanarak CuInSe2 ince filminin kalınlık tayini	tr_TR
dc.title.alternative	Determination of thickness for CuInSe2 thin film using the EDXRF technique	tr_TR
dc.type	Thesis	tr_TR