Özet:
Bu tez çalışmasında ışıklı mikroskobik sistemlerde sitopatolojik analiz süreçleri için optimum aralığın korunmasıyla yüksek çözünürlüklü 2B ve 3B panoramik görüntüleme sağlayan yeni bir yaklaşım önerilmektedir. Önerilen yaklaşım optimum aralığın belirlenmesi, ortak alanlı 2B & 3B görüntülerin oluşturulması, optimum aralığın kontrolü ve 2B & 3B panoramik görüntü birleştirme olmak üzere dört ana aşamadan oluşmaktadır. Çalışmada ortak alanlı 2B ve 3B görüntü üretimleri için Odaklama Derinliğinin Artırılması ve Odaktan Şekil yaklaşımları kullanılmaktadır. Odaklama Derinliğinin Artırılması ve Odaktan Şekil yaklaşımları için aynı görüş alanına ve farklı odaklamalara sahip 2B görüntülerden oluşan imge dizisi oluşturulurken Z ekseninde rastgele başlangıç ve bitiş noktaları olan aralık boyunca tarama yapan literatür çalışmalarının aksine, ilk aşamada optimum odaklamaya sahip 2B ve 3B görüntü elde etmek için Z ekseninde optimum aralık kestirilmektedir. İkinci aşamada Odaklama Derinliğinin Artırılması ve Odaktan Şekil yaklaşımları için yeni odaklama operatörleri önerilmektedir. Üçüncü aşamada platformun her X veya Y adımında optimum aralık kontrolü yapılmakta ve böylece 2B & 3B ortak alanlı görüntüler arasında odaklama farklılığının oluşması engellenmektedir. Son aşamada ise 2B & 3B panoramik görüntüleri elde etmek için 2B görüntü tabanlı ve hibrit olmak üzere iki farklı panoramik görüntüleme yaklaşımı önerilmektedir. Her aşama için önerilen yaklaşımın literatürdeki çalışmalar ile karşılaştırması yapılmakta ve daha iyi sonuçlar sağladığı öznel ve nesnel olarak ispatlanmaktadır.
