Özet:
Bu çalışmada 〖Sn〗_x 〖In〗_y 〖Bi〗_6 alaşımlarında bulunan Sn ve In elementlerinin K tabakası fluoresans tesir kesiti ve fluoresans verimi, K_β⁄K_α X-ışını şiddet oranı, EDXRF tekniği kullanılarak araştırıldı. Numuneler 241-Am radyoizotop halka kaynağından yayımlanan 59.5 keV enerjili γ-ışınları ile uyarıldı ve numuneden yayımlanan karakteristik K X-ışınları, rezolüsyonu 5.9 keV'de 150 eV olan Ultra-LEGe dedektörü ile sayıldı. Bu çalışmada elde edilen değerler teorik değerlerle karşılaştırıldı ve K_α ile K_β tesir kesiti değerlerinin Sn elementi için yüzdelik dilim arttıkça arttığı, In elementi için ise yüzdelik dilim azaldıkça arttığı gözlemlenmiştir.
In this work, K-shell flourescence cross-sections yield, K_β⁄K_α X-ray intensity ratios investigated by using EDXRF technique. Samples were excited using 59.5 keV γ-ray from an Am-241 radioactive circle source, the emitted X-rays were counted using a ULTRA LeGe detector with resolution 150 Ev at 5,9 keV. Experimental results compared with theoretical results and it was found that K_α and K_β X-ray production cross-section values are increasing with because of increasing percentage slice in Sn element and because of decreasing percentage slice in In element.
